題-1-3-440x332.jpg)
高低溫沖擊試驗(yàn)箱系統(tǒng)結(jié)構(gòu)可分為高溫槽（預(yù)熱區(qū)）、低溫槽（預(yù)冷區(qū)）、測試槽（室溫區(qū)）三部份，采用獨(dú)立槽區(qū)風(fēng)路切換方式可將低溫槽、高溫槽的冷熱量或者室溫空氣導(dǎo)入測試槽，使測試槽的試驗(yàn)樣品能夠在低溫、高溫、室溫環(huán)境之間快速轉(zhuǎn)換，試驗(yàn)過程試驗(yàn)樣品不移動。本試驗(yàn)箱適用于考核整機(jī)產(chǎn)品、元器件、零部件、材料等經(jīng)受溫度急劇變化的能力，該溫度沖擊試驗(yàn)藉以在最短時間內(nèi)評估試驗(yàn)樣品因熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化或物理傷害，能夠了解試驗(yàn)樣品一次或連續(xù)多次因溫度變化而帶來的影響。影響溫度變化試驗(yàn)的主要參數(shù)為溫度變化范圍的高溫和低溫溫度值、試驗(yàn)樣品在高溫和低溫下的保持時間、以及試驗(yàn)的循環(huán)次數(shù)等因素。高低溫沖擊試驗(yàn)箱是金屬、塑料、橡膠、電子等材料行業(yè)必備的測試設(shè)備。
工作原理：
高低溫沖擊試驗(yàn)箱內(nèi)置低溫區(qū)、高溫區(qū)、試驗(yàn)區(qū)三個部分，三個區(qū)分別獨(dú)立，三個箱體間通過風(fēng)門切換不需移動試驗(yàn)產(chǎn)品，沖擊常溫時，通過鼓風(fēng)機(jī)，把環(huán)境溫度導(dǎo)入試驗(yàn)空間，排除試驗(yàn)空間熱量或冷量，同時高低溫槽風(fēng)門關(guān)閉，沖擊低溫時，高溫和常溫槽風(fēng)門關(guān)閉，低溫槽與試驗(yàn)箱相通，瞬間把預(yù)存冷量導(dǎo)入試驗(yàn)箱，沖擊高溫時，低溫和常溫槽風(fēng)門關(guān)閉，高溫槽與試驗(yàn)箱相通，瞬間把預(yù)存熱量導(dǎo)入試驗(yàn)箱從而達(dá)到溫度快速交變的目的。
技術(shù)參數(shù)：
標(biāo)稱容積：200L
內(nèi)箱尺寸：W650mm*D670mm*H460mm
外箱尺寸：W1710mm*D1932mm*H2010mm
試驗(yàn)方式：氣動風(fēng)門切換2溫室或3溫室方式
預(yù)熱溫度上限：+280℃
預(yù)冷溫度下限：-70℃
高溫沖擊范圍：+60℃～+250℃
低溫沖擊范圍：-10℃～-55℃
溫度偏差：≤±2.0℃（空載）
溫度恢復(fù)時間：≤5min 暴露條件如下，高溫暴露（+250℃：30 分鐘）←→低溫暴露（-40℃：30 分鐘）
升溫速率：常溫～+280℃≤40min，升溫時間為高溫室單獨(dú)運(yùn)轉(zhuǎn)時的性能
降溫速率：常溫～-70℃≤80min，降溫時間為低溫室單獨(dú)運(yùn)轉(zhuǎn)時的性能
溫度恢復(fù)條件：試樣：塑料封裝集成電路（均布），傳感器位置：試樣的進(jìn)風(fēng)口 負(fù)載：1kg 的 IC 芯片
試驗(yàn)箱承重：30Kg
噪聲：A 聲級≤75dB(A) (大門前 1m 離地面高度 1.2m 處，自由空間中)
外殼材料：雙面鍍鋅鋼板，表面噴塑處理
頂蓋材料：不銹鋼板SUS304
絕熱材料：硬質(zhì)聚氨脂+玻璃纖維棉
試驗(yàn)箱構(gòu)成：高溫室、低溫室、驅(qū)動裝置、制冷機(jī)組
控制器：7寸 800*400點(diǎn)陣TFT彩色LCD顯示屏
控制器運(yùn)行方式：定值方式
控制器設(shè)定方式：觸摸式（電壓）
設(shè)定范圍：根據(jù)設(shè)備的工作溫度范圍調(diào)整（上限+5℃，下限-5℃）
電壓、頻率：AC380V±10% 50Hz±10%，三相四線+保護(hù)地線
裝機(jī)功率： 66kW，最大額定電流為 105A
接地電阻：保護(hù)地線接地電阻小于 4Ω
冷卻循環(huán)水：（水溫≤ +30℃（不結(jié)冰）；水壓：0.3MPa～0.45MPa，流量：12T/H）
壓縮空氣：0.4～0.7MPa
安全裝置：漏電保護(hù)器、箱內(nèi)超溫保護(hù)器、風(fēng)機(jī)過熱保護(hù)器、壓縮機(jī)超壓、壓縮機(jī)過熱保護(hù)、樣品超溫保護(hù)、卻相機(jī)相序保護(hù)
滿足試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：
GB/T2423.1﹣2001 試驗(yàn) A：低溫試驗(yàn)方法
GB/T2423.2﹣2001 試驗(yàn) B：高溫試驗(yàn)方法
GB/T2423.22﹣2001 試驗(yàn) N：溫度變化試驗(yàn)方法
GJB150.3A-2009 高溫試驗(yàn)
GJB150.4A-2009 低溫試驗(yàn)
GJB150.5A-2009 溫度沖擊試驗(yàn)
驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)：
GB/T5170.2-2008
產(chǎn)品實(shí)拍：
