高低溫試驗(yàn)箱規(guī)范性引用文件

GB/T170.2-2008標(biāo)準(zhǔn)范圍

GB/T 5170的本部分規(guī)定了溫度(含低溫、高溫和溫度變化)試驗(yàn)設(shè)備的檢驗(yàn)項(xiàng)目、檢驗(yàn)用主要儀器及要求、檢驗(yàn)負(fù)載、檢驗(yàn)條件、檢驗(yàn)方法、數(shù)據(jù)處理結(jié)果與檢驗(yàn)結(jié)果、檢驗(yàn)周期等內(nèi)容。

本部分適用于對(duì)GB/T 2423.1《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A:低溫》、GB/T2423.2 《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B:高溫》和GB/T 2423. 22 《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)N:溫度變化》所用試驗(yàn)設(shè)備的首次檢驗(yàn)/驗(yàn)收檢驗(yàn)和周期檢驗(yàn)。本部分也適用于類似試驗(yàn)設(shè)備的檢驗(yàn)。

規(guī)范性引用文件

下列文件中的條款通過(guò)GB/T 5170的本部分的引用而成為本部分的條款。凡是注日期的引用文件其隨后所有的修改單(不包括勘誤的內(nèi)容)或修訂版均不適用于本部分,然而,鼓勵(lì)根據(jù)本部分達(dá)成協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件,其最新版本適用于本部分GB/T 2423.1電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A:低溫(GB/T 2423. 1-2001, idtIEC 60068-2-1: 1990)

GB/T 2423.2電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B:高溫(GB/T 2423. 2-2001, idtIEC 60068-2-2: 1974)；

GB/T 2423.22電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)N:溫度變化(GB/T 2423.22-2002, IEC 60068-2-14: 1984, IDT)；

GB/T 2424.5電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 溫度試驗(yàn)箱性能確認(rèn)(GB/T 2424.5-2006, IEC 60068-3-5: 2001, IDT)；

GB/T 5170.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法總則；

GB/T 16839.1熱電偶第1部分:分度表(GB/T 16839. 1-1997, idt IEC 60584-1: 1995)IEC 60751工業(yè)鉑電阻敏感元件。

術(shù)語(yǔ)和定義

本部分采用GB/T 5170.1-2008規(guī)定的術(shù)語(yǔ)和定義。

檢驗(yàn)項(xiàng)目

本部分的檢驗(yàn)項(xiàng)目如下:

－溫度偏差；

－溫度波動(dòng)度；

－溫度均勻度；

－風(fēng)速；

－溫度變化速率；

－每5min溫度平均變化速率；

－溫度恢復(fù)時(shí)間；

－溫度指示誤差；

－溫度過(guò)沖量；

－溫度過(guò)沖恢復(fù)時(shí)間；

－噪聲。